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提籃式冷熱沖擊試驗箱

提籃式冷熱沖擊試驗箱

  • 產(chǎn)品型號:DE-TS-T150
  • 更新時(shí)間:2022-08-24
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  • 產(chǎn)品簡(jiǎn)介:提籃式冷熱沖擊試驗箱適用于設備零部件、汽車(chē)配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關(guān)行業(yè)*的檢測設備。
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詳細介紹

  提籃式冷熱沖擊試驗箱利用低溫及高溫蓄冷熱槽,依動(dòng)作打開(kāi)閥門(mén),將低溫及高溫通過(guò)送風(fēng)系統快速快速送到試驗槽內,從而達到快速溫度沖擊效果,平衡調溫控制系統(BTC)特殊設計之送風(fēng)循環(huán)系統,以P.I.D.方式控制SSR,使系統之加熱量等于熱損耗量,故能長(cháng)期穩定的使用。

提籃式冷熱沖擊試驗箱主要依據標準和試驗方法

*GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

*GB/2423.13-2002溫度沖擊試驗

*GJB360B-2009溫度沖擊試驗

*GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件規格

*GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 低溫試驗法

*GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

*GB/T2423.2-2008 高溫試驗法

......

DE-TS-T系列提籃式冷熱沖擊試驗箱適用于設備零部件、汽車(chē)配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關(guān)行業(yè)*的檢測設備,可用于測試材料或元器件在瞬間的高溫或極低溫的連續環(huán)境下所能忍受的程度得以在短時(shí)間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

也可以用于環(huán)境應力篩選(溫度循環(huán))、高/低溫環(huán)境適應性和可靠性試驗,對各種大型電工電子產(chǎn)品用于發(fā)現早期故障、模擬實(shí)際溫度與快溫變環(huán)境和考核產(chǎn)品耐受溫度的能力。

 

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